Hochtemperatur-Röntgendiffraktometrie (HT-XRD)

Röntgendiffraktometer Empyrean (Fa. PANalytical)

Analyt:

  • anorganische Materialien, Werkstoffe, Komposite,  pulverförmige  und kompakte Proben
  • Probengeometrie: pulverförmige Proben, kompakte Proben, dünne Schichten usw.
  • benötigte Probenmenge: wenige mg

Zielgrößen/Anwendungen:

  • zeit-/temperaturabhängige Strukturumwandlungen
  • in-situ Untersuchungen von Feststoff-Feststoff Reaktionen oder Gas-Feststoff Reaktionen
  • simultane Untersuchungen struktureller und katalytischer Parameter von Katalysatoren
  • Charakterisierung sauerstoff-/feuchtigkeitsempfindlicher Materialien
  • kinetische Untersuchungen von Festkörperreaktionen
  • Untersuchungen von temperaturabhängigen Alterungsprozessen unter Reaktionsbedingungen (z. B. für Katalysatoren)

Technische Ausstattung:    

  • Wellenlänge: Co-Kα1; λ = 0,176 nm

Hochtemperaturkammer HTK-2000N (Fa. Anton Paar)

Betrieb:

  • Luft (Pt-Heizband) - Raumtemperatur bis 1600 °C (kurze Laufzeit)
  • Luft (Pt-Heizband) - Raumtemperatur bis 1450 °C (Dauerbetrieb)
  • Luft (Ta-Heizband) - Raumtemperatur bis 400 °C
  • Vakuum (W-Heizband) - Raumtemperatur bis 2300 °C
  • Vakuum (Pt-Heizband) - Raumtemperatur bis 1600 °C
  • Vakuum (Ta-Heizband) - Raumtemperatur bis 1500 °C

Reaktionskammer XRK-900 (Fa. Anton Paar)

Betrieb:

  • Luft/Schutzgas/Vakuum - Raumtemperatur bis 900 °C
  • Reaktionsgase - Raumtemperatur bis 900 °C (max. 10 bar)
  • offene (Gasdurchfluss) und geschlossene (Vakuum) Probenhalter:
  •      Glaskeramik – Raumtemperatur bis 900 °C
  •      Inconel – Raumtemperatur bis 900 °C
  •      Edelstahl – Raumtemperatur bis 600 °C